技術(shù)編號：5950023
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于確定優(yōu)選大面積半透明的對象的透射和/或反射特性的光學(xué)測量方法。該光學(xué)測量方法尤其是能夠應(yīng)用于在制造被表面涂層的襯底時的工藝和質(zhì)量控制。此外，本發(fā)明的主題是適用于執(zhí)行本發(fā)明方法的光學(xué)測量設(shè)備。背景技術(shù)在制造用于光電池的被涂層的半透明材料、例如配備有導(dǎo)電層的襯底時，對襯底的透明和反射特性的控制首先在將太陽輻射轉(zhuǎn)化成電時獲得最佳效率方面是有意義的。在此，也以名稱HAZE或大角度散射已知的渾濁度是重要的特征值。渾濁度按照國際標(biāo)準(zhǔn)ASTM D 10...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。