技術(shù)編號：5949434
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種隱裂缺陷測試儀。背景技術(shù)隱裂缺陷測試儀利用晶體硅的電致發(fā)光原理，利用高分辨率的CCD相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷；具有靈敏度高、檢測速度快、結(jié)果直觀形象等優(yōu) 點，是提升光伏組件品質(zhì)的關(guān)鍵設(shè)備；紅外檢測可以全面掌握太陽電池內(nèi)部問題，為改進生產(chǎn)工藝提供依據(jù)，提升產(chǎn)品質(zhì)量，可以對問題組件進行及時返修，盡可能的降低損失?，F(xiàn)有的隱裂缺陷測試儀的紅外線成像儀固定與檢測機本體內(nèi)部無法根據(jù)檢查需要調(diào)整位置。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明目的是提供一種紅外線...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。