技術(shù)編號(hào)：5948175
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及診斷電氣設(shè)備所用的絕緣物陳年老化造成的性能劣化的方法。背景技術(shù) 受電配電設(shè)備等電氣設(shè)備中使用的絕緣物因周圍環(huán)境和電氣方面、機(jī)械方面的應(yīng)力等而陳年老化變差，作為診斷電氣設(shè)備絕緣物性能劣化的方法，已知有的例如，絕緣電阻測(cè)量、局部放電測(cè)量、泄漏電流測(cè)量、分解氣體測(cè)量、tanδ測(cè)量等多種方法。按測(cè)量方法分類，則可列舉破壞對(duì)象物和不破壞對(duì)象物的測(cè)量、使測(cè)量器具直接接觸和非直接接觸絕緣物的測(cè)量、在電氣設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)下的測(cè)量和停止?fàn)顟B(tài)下的測(cè)量等。從如此多種多樣的...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。