技術(shù)編號：5947906
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光機(jī)電一體化研究領(lǐng)域，具體地說是涉及一種熱刺激電流測試儀。背景技術(shù)熱刺激電流(ThermalIy Stimulated Current,TSD)技術(shù)是通過將樣品線性升溫，使材料中不同陷阱能級內(nèi)的空間電荷脫阱，或使取向的偶極分子發(fā)生松弛，在外電路上產(chǎn)生電流，獲得電流隨溫度的變化關(guān)系的一門技術(shù)。通過對所獲得的電流-溫度譜的分析、計(jì)算，可得到捕獲空間電荷和取向偶極分子的 束縛能級、活化能分布和儲存的電荷密度、脫阱電荷的逃逸頻率和平均渡越時(shí)間等參數(shù)，是研...
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