技術(shù)編號(hào)：5944927
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種檢測(cè)光學(xué)元件參數(shù)的裝置，特別是關(guān)于一種光學(xué)元件各向異性檢測(cè)裝置。背景技術(shù)光學(xué)元件各向異性包括天然雙折射材料或人工雙折射材料形成的各向異性，如波片的位相延遲，也包括各向同性光學(xué)元件由于加工過程中引入的殘余應(yīng)力造成的應(yīng)力雙折射。其中，波片位相延遲的測(cè)量精度直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的精度，光學(xué)元件內(nèi)部的殘余應(yīng)力對(duì)光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量、像差等有著重要的影響。因此，精確測(cè)定光學(xué)元件的各向異性具有非常重要的意義?，F(xiàn)有技術(shù)中對(duì)光學(xué)元件各向異性的檢測(cè)通常是采用光學(xué)元...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。