技術(shù)編號(hào)：5941510
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及實(shí)驗(yàn)室光譜定標(biāo)領(lǐng)域，波段范圍為短波紅外波段(波長(zhǎng)為 1000-2500nm)，具體是指通過譜線漂移校正模型對(duì)超光譜成像儀譜線溫漂進(jìn)行校正的方法。背景技術(shù)為了定量獲得地物圖像信息，在發(fā)射之前需對(duì)遙感儀器進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室定標(biāo)以獲取儀器的性能參數(shù)，其中實(shí)驗(yàn)室定標(biāo)包括光譜定標(biāo)和輻射定標(biāo)。其中光譜定標(biāo)是獲得遙感器各波段的中心波長(zhǎng)和光譜響應(yīng)帶寬(一般用半波寬描述)；輻射定標(biāo)是根據(jù)光譜定標(biāo)得到的波段響應(yīng)特性計(jì)算儀器各個(gè)探測(cè)元的輻射定標(biāo)系數(shù)(包括增益和偏置)。目前實(shí)驗(yàn)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。