技術編號：5939314
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及用于檢測產品中由用于制造產品的一個或多個工藝階段導致的系統(tǒng)缺陷的方法。開發(fā)本發(fā)明，主要用于檢測系統(tǒng)工藝誘發(fā)的缺陷，諸如光伏晶片、光伏電池或光伏模塊中的裂紋，然而將理解，本發(fā)明不限于該特定使用領域。相關申請本申請要求源自澳大利亞臨時專利申請第2010903558號的優(yōu)先權，將其內容結合于此供參考。背景技術提供對現有技術的以下討論以將本發(fā)明置于合適的技術環(huán)境下且能使本發(fā)明的優(yōu)點得到更充分的理解。然而，應理解，在整個說明書中對現有技術的任何討論均不應被...
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該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。