技術(shù)編號：5937845
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種改進的設(shè)備和方法，用來校正使用坐標定位設(shè)備所獲得的測量的誤差，該坐標定位設(shè)備包括測量探針。背景技術(shù)坐標定位設(shè)備(諸如坐標測量機(CMM)和數(shù)控機床)是熟知的，并且廣泛用在工業(yè)檢查過程中。具體地說，已知使用坐標定位設(shè)備來測量零件(例如，工件)表面上的多個點的位置，以確認它已經(jīng)制造得在希望公差內(nèi)。用任何坐標定位設(shè)備獲得的測量將始終具有特定水平的不確定性，并且在過去幾年已經(jīng)開發(fā)了多種不同的校準技術(shù)，以改進在零件表面上的點位置可被測量的精度。US54...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。