技術(shù)編號：5937639
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種使用X射線的圖像拾取裝置和成像方法。背景技術(shù)使用放射線的無損檢測用于從工業(yè)用途到醫(yī)學(xué)用途的大范圍領(lǐng)域中。例如，X射線是具有大約Ipm至IOnm (10_12m至10_8m)的范圍內(nèi)的波長的電磁波。在這樣的X射線之中，具有較短波長的那些X射線被稱為硬X射線，具有較長波長的那些X射線被稱為軟X射線。使用透射通過測試對象的X射線的透射率差的吸收率對比度方法通過將高穿透力的X射線應(yīng)用于使用該方法獲取的吸收率圖像中而在安全相關(guān)領(lǐng)域中投入實際使用，所 述...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。