技術(shù)編號：5937186
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，具體涉及ー種兩軸振動(dòng)試驗(yàn)裝置。該兩軸振動(dòng)試驗(yàn)裝置可用于模擬各軸單獨(dú)振動(dòng)的振動(dòng)環(huán)境，也可用于模擬水平和垂直兩軸同時(shí)振動(dòng)的復(fù)合振動(dòng)環(huán)境。背景技術(shù)振動(dòng)環(huán)境試驗(yàn)的目的是在試驗(yàn)室內(nèi)人工模擬試件在運(yùn)輸、儲存、使用過程中可能經(jīng)受到的振動(dòng)環(huán)境影響，并考核其適應(yīng)性。當(dāng)振動(dòng)造成的應(yīng)カ過大時(shí)會使結(jié)構(gòu)產(chǎn)生裂紋甚至斷裂，特別在共振狀態(tài)下更為明顯。長時(shí)間的隨機(jī)振動(dòng)由于交變應(yīng)カ產(chǎn)生的累積損傷，會 使結(jié)構(gòu)產(chǎn)生疲勞破壞。振動(dòng)還會導(dǎo)致觸點(diǎn)不良，帶電元器件相互接...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。