技術編號：5924830
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及一種多路掃描測試控制裝置，用于壓敏、PTC、NTC、瓷介電容等芯片的電性能測試分。背景技術現(xiàn)有測試元件是接一組探針，且對每個元件測試，但是每次只測一個元件。每測試完成一次元件后，測試探針需要運動一次，接著在對下一個元件進行測試，導致測試元件速度比較慢。發(fā)明內容本實用新型的目的是克服現(xiàn)有技術存在的不足，提供一種多路掃描測試控制裝置。本實用新型的目的通過以下技術方案來實現(xiàn)多路掃描測試控制裝置，包括電阻測試儀裝置、RS232通訊裝置以及多路測試探針...
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