技術(shù)編號:5918306
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及用于三維粒子成像測速儀(Piv)標定過程中的標定靶支撐調(diào)節(jié)機構(gòu)。背景技術(shù)傳統(tǒng)的流速測量儀器,只能進行單點測量,而且是接觸式測量,無法對整個區(qū)域內(nèi)的流場進行無擾動測量。PIV技術(shù)(Particle Image Velocimetry,簡稱PIV)克服了以往流場測試中單點測量的局限性,是一種非常有發(fā)展前景的無擾動流場測量技術(shù)。粒子成像測速儀是通過測量示蹤粒子的瞬時速度實現(xiàn)對流場的測量。利用PIV技術(shù)測量二維平面上的流速時,需要在測量的二維平面中均...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。