技術(shù)編號(hào)：5907858
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及電子測(cè)量，更具體地說，涉及一種弱磁場(chǎng)測(cè)量裝置。 背景技術(shù)現(xiàn)有技術(shù)中弱磁場(chǎng)的測(cè)量方法主要有磁通門法、核磁共振法、光磁共振法、超導(dǎo)量子干涉法和磁旋光效應(yīng)法等，這些方法雖然測(cè)量精度和靈敏度很高，但普遍存在結(jié)構(gòu)工藝復(fù)雜、成本高的問題。此外，霍爾效應(yīng)法也是現(xiàn)有技術(shù)中較常用的一種方法，該方法結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低廉，但是在測(cè)量過程中，存在厄廷好森效應(yīng)、能斯特效應(yīng)、里紀(jì)一勒杜克效應(yīng)，以及電極位置不完全對(duì)稱所引起的不等位電勢(shì)，其中厄廷好森效應(yīng)無法消除，當(dāng)磁場(chǎng)方向不...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。