技術(shù)編號(hào)：5900102
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。非接觸式太陽能電池缺陷檢測(cè)裝置[0001]本實(shí)用新型屬于太陽能電池檢測(cè)，特別是涉及一種非接觸式太陽能電 池缺陷檢測(cè)裝置。背景技術(shù)[0002]太陽能電池的缺陷表現(xiàn)為電池表面的壞點(diǎn)和裂紋，目前對(duì)太陽能電池的缺陷檢 測(cè)方法為電致發(fā)光檢測(cè)方法，其基本原理為半導(dǎo)體材料中處于激發(fā)態(tài)的電子可以向較低 的能級(jí)躍遷，并以光輻射的形式放出能量，電池發(fā)光檢測(cè)方法具體操作為對(duì)太陽能電池 通以一定的電流，利用電池的電致發(fā)光原理使電池發(fā)光，然后利用成像單元對(duì)發(fā)光的電 池進(jìn)行拍照，最后...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。