技術(shù)編號(hào):5900076
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及封裝的芯片級(jí)測(cè)試,尤其涉及一種連接檢查板。 背景技術(shù)在封裝的芯片級(jí)測(cè)試中使用DUT(device under test, DUT)板連接待測(cè)芯片樣品 和測(cè)試設(shè)備。參見(jiàn)圖1,DUT板100上設(shè)有多個(gè)插座(sockets) 110和多個(gè)金手指 (gOldfingers)120,每個(gè)插座110又包括多個(gè)管腳111,測(cè)試時(shí),待測(cè)芯片樣品的引腳插入 所述插座110的管腳111,實(shí)現(xiàn)所述待測(cè)芯片樣品與所述DUT板100的連接,所述DUT板100 的金手指...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。