技術(shù)編號：5887235
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及電子測試與計量，具體的說是一種電容器高溫老化系統(tǒng) 校準(zhǔn)裝置。背景技術(shù)電容器高溫老化系統(tǒng)是電容器篩選的主要設(shè)備，在施加一定的溫度等應(yīng)力條件 下，提供必要的電子信號使電容器工作從而使有缺陷的電容器加速失效，以加速暴露電容 器的固有缺陷而不破壞它的完整性，從而達(dá)到電容器篩選的目的。電容器高溫老化系統(tǒng)需要定期進(jìn)行現(xiàn)場校準(zhǔn)，否則不但不能起到應(yīng)有的老化作 用，反而會因為老化設(shè)備性能異常而給正在進(jìn)行高溫老化試驗的電容器器件注入新的隱患。然而，目前大多數(shù)使用...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。