技術(shù)編號(hào)：5885659
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種儀器、測量領(lǐng)域厚度的計(jì)量中的膜厚量測方法及微波量測設(shè)備，特別是涉及一種可以精確量測非平面的膜厚量測方法及微波量測設(shè)備。背景技術(shù) 目前3C產(chǎn)品的發(fā)展隨著客戶的需求，逐漸走向多元化及外觀活潑化的方向發(fā)展，而在外殼上則賦予不同的噴涂、濺鍍、轉(zhuǎn)印、電鍍，甚至是含浸等技術(shù)。而這些技術(shù)對于外殼的膜厚通常很難加以控制，因此容易造成產(chǎn)品的變異性增加。這并不是產(chǎn)品本身有許多問題，而是對于膜厚的分布無法確實(shí)掌握，以便提供客戶設(shè)計(jì)指引。舉例來說，手機(jī)的外殼膜厚會(huì)隨...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。