技術(shù)編號(hào)：5880052
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于空間環(huán)境探測(cè)領(lǐng)域，具體來(lái)說(shuō)，本發(fā)明涉及一種利用太陽(yáng)電池測(cè)量原子氧環(huán)境密度的方法。背景技術(shù)原子氧通量密度可以用許多技術(shù)進(jìn)行測(cè)量，包括標(biāo)定樣品的質(zhì)量損失法、石英晶體微天平法OiCM)、質(zhì)譜法、電阻傳感器法等。這些方法或者極其昂貴，要求回收樣品，或者很復(fù)雜難于在航天器上實(shí)現(xiàn)。因此提出一個(gè)新的方法，利用太陽(yáng)電池進(jìn)行軌道原子氧通量密度測(cè)量。太陽(yáng)電池表面覆蓋一層原子氧敏感的半透膜材料，例如聚酰亞胺膜或者無(wú)定形碳膜。半透膜在原子氧環(huán)境作用下，透過(guò)率發(fā)生變化。半...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。