技術編號：5879160
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明是有關于一種測距技術，且特別是有關于一種可對一待測物進行非接觸的的三維的測距技術。背景技術目前的測距儀器可以分為接觸式和非接觸式。其中，所謂的接觸式測距儀器，也就是傳統(tǒng)的測距技術，例如坐標測量機(Coordinate Measuring Machine，簡稱CMM)。雖然接觸式測量技術相當精確，但是由于必須接觸待測物的本體，有可能會導致待測物遭到測距儀器的探針的破壞。因此，接觸式測距裝置不適用于高價值物件的測量。相較于傳統(tǒng)的接觸式測距儀器，非接觸測距...
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