技術(shù)編號:5876884
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種量測儀。 背景技術(shù)透鏡加工完成后,需通過量測儀進(jìn)行精度量測,如幾何尺寸、面型量測等。量測儀器量測時,須先手動下針到距待測物一定距離后,再由機臺進(jìn)行自動下針。因此待測物必須先放置到探針正下方的位置。但由于量測區(qū)是嵌入式結(jié)構(gòu),內(nèi)部非常暗,因此在放置待測物時,非常不方便。手動下針后,若待測物與探針位置有偏差,必須重新抬起探針再調(diào)整待測物,不僅在黑暗的環(huán)境下對位困難,而且手也容易碰傷到探針,損害探針,使探針斷裂。發(fā)明內(nèi)容有鑒于此,有必要提供一種可在調(diào)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。