技術編號：5865577
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及光學的微粒探測。在一個形式中，本發(fā)明涉及光學煙霧探測器，光學煙霧探測器使用電磁輻射的多個波長，以便能夠進行一系列尺寸的微粒探測。在優(yōu)選的形式中，本發(fā)明將被描述為使用光的4個波長而執(zhí)行微粒探測，然而不應當考慮本發(fā)明被限制為這種典型的應用或執(zhí)行。背景技術已經公知探測空氣中的微粒的多種方法。一種方法包括將光束投射穿過探測室 (探測室中包含空氣樣品)，并且測量以特定散射角從光束散射的光量。這樣的微粒探測器可以是吸氣式的，因為其將空氣主動吸入其中，或者可選...
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