技術(shù)編號(hào)：5865424
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子測試頭對(duì)接領(lǐng)域，特別地涉及通過一個(gè)或多個(gè)對(duì)接致動(dòng)的對(duì)接致動(dòng)器為凸輪施加、至少部分動(dòng)力的一用于測試頭對(duì)接的方法和裝置。背景技術(shù) 在制造集成電路(ICs)和其它電子裝置過程中，使用自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)在整個(gè)過程的一個(gè)或多個(gè)階段進(jìn)行測試。使用特殊處理設(shè)備把要測試的裝置定位進(jìn)行測試。在某些情況下，當(dāng)對(duì)要測試的裝置進(jìn)行測試時(shí)，所述特殊處理設(shè)備可以將其置于適當(dāng)?shù)臏囟群?或保持其在適當(dāng)?shù)臏囟?。所述特殊處理設(shè)備包括對(duì)在一個(gè)晶片上沒封裝的裝置進(jìn)行測試的“探針...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。