技術(shù)編號(hào):5863180
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用于半導(dǎo)體IC芯片和液晶顯示裝置等的電氣檢查的接觸探針。背景技術(shù) 在形成半導(dǎo)體基板和液晶裝置等的電路的電氣檢查中,使用由將多個(gè)接觸探針與被檢查電路的配列合在一起而配置的探針卡組成的檢查裝置。接觸探針為了進(jìn)行與作為檢查對(duì)象的圖形配線確實(shí)接觸且不損傷配線,為了反復(fù)使用可能程度的適度的接觸,需要具有觸點(diǎn)機(jī)能的前端部和具有按壓功能的彈簧部?,F(xiàn)在,這些由各種各樣部件組合構(gòu)成例如特開(kāi)2000-162241號(hào)公報(bào)和特開(kāi)平11-337575號(hào)公報(bào)提出了用電鑄形成...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。