技術(shù)編號(hào):5858207
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種測(cè)量晶體硅太陽電池pn結(jié)用陽極氧化裝置,屬于太陽電池 參數(shù)測(cè)量裝置。技術(shù)背景 pn結(jié)是晶體硅太陽電池的核心部分,pn結(jié)的測(cè)量是評(píng)價(jià)擴(kuò)散層質(zhì)量和選擇控制 擴(kuò)散條件必不可少的依據(jù),對(duì)于優(yōu)化和控制擴(kuò)散工藝,提高太陽電池效率具有重大意義。 目前晶體硅太陽電池pn結(jié)測(cè)量主要有二次離子質(zhì)譜法(SIMS)和擴(kuò)展電阻法 (SRP),是近年來發(fā)展起來的高端測(cè)試手段,具有很高的分辨率、靈敏度、穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度, 在半導(dǎo)體領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。但這類方法測(cè)試樣品必...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。