技術(shù)編號：5857483
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種測試裝置，特別是指一種LED光源的光衰測試裝置。 背景技術(shù)在LED光源工作的過程中，由于熱量及其它因素影B向，熒光粉及芯片會逐漸老化， 芯片的電光轉(zhuǎn)換效率會變低，而熒光粉受激發(fā)出光也會減少，導(dǎo)致LED光源整體發(fā)光效率 變低，此現(xiàn)象稱之為LED光源的光衰。 當(dāng)光衰達到一定程度時，LED光源發(fā)光就不能滿足使用需要，此時LED光源的壽命 即完結(jié)。由于LED光源光衰極其緩慢，通常達到幾萬小時才會達到其壽命，因此測量LED光 源壽命的方法，都是通過...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。