技術(shù)編號：5856443
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種制作薄膜試樣的裝置，尤其涉及一種制作薄膜試樣的試樣夾。背景技術(shù)織構(gòu)對硅鋼性能影響較大，硅鋼成品織構(gòu)直接影響成品性能。由于軋制過程的不 均勻變形，導(dǎo)致硅鋼沿鋼板厚度方向織構(gòu)也發(fā)生了變化。用于檢測織構(gòu)的x射線珩射儀所 用的X射線穿透能力有限，只能檢測到表面較淺范圍內(nèi)的織構(gòu)。為了能檢驗(yàn)到整個(gè)厚度范 圍內(nèi)織構(gòu)，現(xiàn)有主要方法是將試樣減薄到不同厚度分別進(jìn)行檢測了解相應(yīng)厚度處的織構(gòu)。 加工試樣時(shí)如果產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力將會使檢驗(yàn)結(jié)果產(chǎn)生偏差。 減薄試樣的方法有平...
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