技術(shù)編號(hào):5855204
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于檢測(cè)裝置,具體地說是一種控制可控硅導(dǎo)通角的交流電全波過零檢測(cè)裝置。 背景技術(shù)在實(shí)行可控硅調(diào)功控制的各種微機(jī)控制系統(tǒng)中,需要控制可控硅導(dǎo)通角,而導(dǎo)通角的控制需要交流電過零點(diǎn)作為基準(zhǔn)。過零檢測(cè)的作用可以理解為給主芯片提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn),這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的起點(diǎn)是零電壓,可控硅導(dǎo)通角的大小就是依據(jù)這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)?,F(xiàn)有的控制可控硅導(dǎo)通角的過零檢測(cè)裝置所采取的設(shè)計(jì)方案是輸入信號(hào)通過變壓器、整流橋產(chǎn)生整流脈沖,然后利用運(yùn)算放大器產(chǎn)生過零脈沖。這種設(shè)計(jì)方案的缺點(diǎn)是可靠性低、易受...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。