技術(shù)編號：5852770
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及以采用光學(xué)方法為特征的測量裝置，尤其是涉及一種基于 雙頻干涉原理的直線度及其位置的測量裝置。 背景技術(shù)縱觀國內(nèi)外直線度的測量方法，按照有無直線基準(zhǔn)，可將直線度的測量方 法大致分為兩類第一類是無直線基準(zhǔn)的測量方法，主要采用誤差分離法，而 按照信息獲取的途徑不同，無直線基準(zhǔn)測量法又可分為反向法、錯位法和多測 頭法，誤差分離法實用可靠，適用于在線或離線測量， 一次測量可獲得多項測 量誤差，但該方法受多種因素的影響，如測量裝置結(jié)構(gòu)參數(shù)選擇不當(dāng)、測頭間...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。