技術(shù)編號(hào)：5851456
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種盲元檢測(cè)方法，尤其涉及一種。背景技術(shù)由于紅外探測(cè)器在制作過程中半導(dǎo)體材料的不一致，掩膜誤差、缺陷、工藝等因素的影響，其信號(hào)輸出幅值會(huì)出現(xiàn)不均勻現(xiàn)象，嚴(yán)重者就會(huì)出現(xiàn)文中所講的盲元問題。由于這些不均勻性及盲元的存在，可能會(huì)使所獲得的圖像信號(hào)模糊不清、畸變，甚至使探測(cè)器失去探測(cè)能力，對(duì)于成本較高的焦平面陣列來說，若能通過非均勻校正使均勻性很差的探測(cè)器獲得滿意的校正結(jié)果，通過盲元檢測(cè)和補(bǔ)償剔除過亮或過暗的像元，提高紅外焦平面陣列的成像質(zhì)量，則具有很高...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。