技術(shù)編號：5847030
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種中紅外光信號強度的測量方法，尤其是采用光導型中紅外探測器測量中紅外光強變化的測量方法。背景技術(shù)光導型中紅外探測器如碲鎘汞、銻化銦等在測量紅外光強參數(shù)時，常采用恒流源結(jié)合儀表放大器的測量方法，但是當測量環(huán)境溫度變化較大時，由于中紅外探測器的固有特性，探測器的暗電阻和響應率均隨溫度變化而改變，當環(huán)境溫度變化時，光導型探測器暗電阻的變化將引起探測電路輸出本底電壓的漂移。當探測器工作在一個寬溫環(huán)境下，即周邊溫度變化范圍較大時，本底電壓漂移是電路參數(shù)設(shè)...
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