技術(shù)編號：5839397
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種插值方法，特別是一種新型的、可用于傅立葉域光學(xué)相干層析等有 插值需要的儀器的可變插值間隔的插值方法。 背景技術(shù)傅立葉域光學(xué)相干層析系統(tǒng)是一種新型的非接觸、高分辨率的光學(xué)探測系統(tǒng)，它通過光學(xué) 干涉的方法對目標(biāo)進(jìn)行縱向掃描，最后通過二維或三維重建，得出目標(biāo)的結(jié)構(gòu)信息、多普勒 信息以及偏振信息，因此它可廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)成像、各種工業(yè)損傷探測之中。傅立葉域光學(xué)相干層析技術(shù)中，參考光和信號光在光學(xué)分光器3中形成干涉，干涉信號由衍射光柵9進(jìn)行 分光，由透鏡...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。