技術(shù)編號(hào)：5838423
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于測(cè)量光學(xué)元件參數(shù)的方法，特別涉及一種用于測(cè)量高反射率的方法。技術(shù)背景高反射率光學(xué)元件在激光系統(tǒng)中的廣泛使用迫切要求精確測(cè)量高反射率，而目前只有光腔 衰蕩方法能精確測(cè)量高反射率(反射率11>99.99%)。申請(qǐng)?zhí)?8114152.8的發(fā)明專利公開(kāi)了一種 光腔衰蕩方法，采用脈沖激光系統(tǒng)作光源，入射到兩塊高反鏡組成的光學(xué)諧振腔，光電探測(cè)器 在出射腔鏡后接收光腔指數(shù)衰減信號(hào)，分別確定直腔衰蕩時(shí)間r,和折疊腔衰蕩時(shí)間^，計(jì)算得到待測(cè)鏡的反射率...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。