技術(shù)編號：5837353
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。相關(guān)申請本申請要求2000年8月3日提交的題為“System，Method，and Apparatusfor Field Scanning”的美國臨時專利申請No.60/222,906和2001年7月10日提交的題為“Method of Compl iance Testing”的美國臨時專利申請No.60/304,479的利益。背景發(fā)明領(lǐng)域本發(fā)明涉及電子裝置和系統(tǒng)的設(shè)計與測試。背景信息測量元件、印刷電路板和電子裝置與系統(tǒng)的電磁輻射很重要，理由如下。首先，一...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。