技術(shù)編號(hào)：5836835
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及印刷電路板的在線測(cè)試領(lǐng)域，尤其涉及一種在在線測(cè)試儀 上快速查找通道號(hào)的技術(shù)。背景技術(shù)在線測(cè)試(In-CircuitTest， ICT)是通過對(duì)在線元器件的電性能及電氣 連接進(jìn)行測(cè)試，以4企查印刷電路板是否存在缺陷以及元器件是否優(yōu)良的一 種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段，其主要^r查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短 路情況。在線測(cè)試儀是提供在線測(cè)試的設(shè)備。在線測(cè)試儀在被測(cè)試單板的每個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)內(nèi)植入一顆探針，每個(gè)探針 連接在線測(cè)試儀一個(gè)通道。在線測(cè)試儀通過通道控...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。