技術編號：5834444
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種測試裝置，尤其是涉及一種可以自動對中央處理器或內(nèi)存進行邊緣(Margin)電壓值的測試裝置。 背景技術針對當前主流電腦制造商在電腦主板制造過程中的測試項目需求，需要對 電腦土板上的中央處理器(CPU)或內(nèi)存(Memory)進行邊緣(Margin)電壓值的測試。然而，目前國內(nèi)尚無自動對中央處理器或內(nèi)存進行邊緣電壓值的測試裝置， 因此急需開發(fā)此類測試裝置。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明公開一種邊緣電壓值的測試裝置，以能夠自動實現(xiàn)自動化測試中央 處理器或內(nèi)存的邊緣...
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