技術(shù)編號(hào)：5832697
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種適合檢測材料，特別是危險(xiǎn)或不適宜材料的入口或關(guān)□。背景技術(shù)在許多環(huán)境，例如機(jī)場中，安全性是一個(gè)越來越大的問題。在恐怖主 義威脅增加的情況下，能夠檢測潛在的危險(xiǎn)材料，特別是被攜帶通過機(jī)場 安全門的那些材料變得越來越重要。然而，實(shí)際上，這是困難的，因?yàn)槌?常存在僅痕量的材料，并且許多現(xiàn)有的系統(tǒng)不具有檢測這種低水平的靈敏 度。一種用于在機(jī)場環(huán)境中檢測危險(xiǎn)材料的已知系統(tǒng)利用離子遷移率光譜(IMS)。粒子從通常為安全門的樣品區(qū)被收集并且通過空氣流或樣品...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。