技術(shù)編號：5824856
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種，其屬于材料超聲無損檢測與評價(jià)。背景技術(shù)目前對于體材料而言，聲阻抗測量主要使用的方法是測量其密度和聲速后通過Z =P c求得，但由于薄層時(shí)域波形的混疊，難以直接獲得薄層聲速的準(zhǔn)確數(shù)值，該方法不適合于薄層。薄層聲衰減測量存在類似的問題。近年來，有關(guān)學(xué)者通過頻譜分析方法求出薄層的聲學(xué)參量。如美國學(xué)者Kinra等在“Ultrasonicnondestructive evaluation of thin (sub-wavelength) coatin...
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