技術(shù)編號(hào)：5822355
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。緩沖式垂直探針卡所屬本發(fā)明涉及一種用于檢測(cè)半導(dǎo)體芯片電特性探針卡，特別是一種有關(guān)在檢 測(cè)晶圓狀態(tài)的芯片時(shí)，通過緩沖機(jī)構(gòu)使芯片受力均勻分散，抑制芯片損傷，并可同時(shí)檢測(cè)多數(shù)芯片的緩沖式垂直探針卡。這種探針卡，在液晶顯示器(LCD)及等離子顯示器(PDP)制造領(lǐng)域中也是必不可少的。背景技術(shù)在對(duì)于合格的芯片封裝前，通常要實(shí)行電特性檢測(cè)(Electrical die sorting EDS)，依據(jù)EDS檢測(cè)結(jié)果，對(duì)合格芯片才可進(jìn)行封裝。而這種EDS檢 測(cè)，是由內(nèi)裝有...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。