技術(shù)編號(hào)：5822021
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種無(wú)損檢測(cè)裝置，特別是涉及一種實(shí)時(shí)多通道渦流、磁記 憶/漏磁檢測(cè)裝置。 背彔技術(shù)無(wú)損檢測(cè)(nondestractive test)簡(jiǎn)稱NDT,是不破壞和報(bào)傷受檢物體，對(duì)它的 性能、質(zhì)量、有無(wú)內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)的一種技術(shù)，無(wú)損檢淵裝置是實(shí)現(xiàn)無(wú)損檢測(cè) 的設(shè)備。在現(xiàn)有的無(wú)損檢測(cè)方法中，常規(guī)的主要有射線採(cǎi)傷(RT)方法、超聲檢 測(cè)(UT)方法、滲透探查(PT)方法、磁粉檢測(cè)(MT)方法、渦流檢測(cè)(ET) 方法，當(dāng)然還有非常規(guī)的，如微波檢測(cè)方法、電位檢...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。