技術(shù)編號：5518191
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明是有關(guān)于一種測試結(jié)構(gòu)，且特別是有關(guān)于一種風(fēng)管。背景技術(shù)為了確保電子產(chǎn)品的運(yùn)作正常，會對電子產(chǎn)品進(jìn)行一系列的檢測，例如測量在電磁干擾的環(huán)境、高溫環(huán)境或低溫環(huán)境下電子產(chǎn)品的運(yùn)作情況。 在進(jìn)行高溫環(huán)境檢測或散熱效能檢測等檢測項(xiàng)目時(shí)， 一般會由風(fēng)管提供待測物一個(gè)穩(wěn)定風(fēng)流的環(huán)境，以維持測量數(shù)值的可靠度和準(zhǔn)確度。 目前產(chǎn)業(yè)界中，風(fēng)管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)一般為管狀的連續(xù)通道，雖然能夠提供風(fēng)流動的空間，卻不易掌控風(fēng)流動的方向，往往造成管內(nèi)風(fēng)流紊亂。 再者，風(fēng)管的設(shè)計(jì)必須根據(jù)測...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。