技術編號：5269291
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了，使用第一原理方法，首先模擬有線缺陷ZGNR的STM圖像，然后研究在外加電場下的線缺陷ZGNRs的自旋相關的特性，通過引入線缺陷和外加橫向電場調控自旋ZGNRs的自旋過濾效應，并與無558線缺陷的ZGNRs比較。最后，提出了實現(xiàn)高性能石墨烯自旋過濾器的一種可行的方法。專利說明 [0001] 本發(fā)明屬于電子，涉及， 具體地說，涉及一種利用電場和線缺陷改善石墨烯納米器件自旋過濾效應的方法。 背景技術 [0002] 自旋電子學是利用電子的自...
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