技術編號：5048302
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及氣體凈化裝置，特別是涉及一種氣體凈化冷阱及比表面儀。背景技術在低溫氮吸附法比表面儀的測試過程中，所使用的高純吸附質(zhì)氣體和高純載氣的 純度一般為99. 995% 99. 999%，其中所含的0. 001% 0. 005%的雜質(zhì)會對測試準確度 造成影響。為了減小目前吸附質(zhì)氣體和載氣中的雜質(zhì)對測試結(jié)果的影響，需要對高純吸附 質(zhì)氣體和高純載氣進行凈化，但目前沒有可以方便的與比表面儀配合實現(xiàn)對高純吸附質(zhì)氣 體和高純載氣進行凈化的裝置。實用新型內(nèi)容基于上...
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