技術編號：4143770
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及一種抗輻射屏蔽件，它能夠降低空間輻射環(huán)境對航天器電子學器件產生的單粒子效應程度，減少其危害。運行于太空的航天器必然遭遇到空間輻射環(huán)境的危害。航天器的電子學器件，特別是邏輯電路，會因為空間高能帶電粒子的轟擊，而使得其邏輯狀態(tài)發(fā)生翻轉，稱為單粒子翻轉；甚至會影響器件的電路，使得器件工作電流急劇增大，發(fā)生單粒子鎖定和單粒子燒毀。以上這些來源于空間輻射環(huán)境影響的效應，總稱為單粒子效應。但粒子效應的危害表現(xiàn)為 單粒子翻轉(SEU)，半導體器件的基本結構...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。