技術編號：40449449
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本技術涉及透射電鏡超薄切片批量染色領域，具體是一種透射電鏡超薄切片批量染色工具。背景技術、透射電子顯微鏡(transmission?electron?microscope，簡稱tem)是一種利用電子作為“光源”的顯微鏡，它通過電子束穿透樣品，從而獲得樣品的高分辨率圖像。tem能夠提供比光學顯微鏡更高的分辨率，使得研究者能夠觀察到納米級別乃至原子級別的結構。這種顯微鏡自世紀年代發(fā)明以來，已經成為材料科學、生物學和物理學等領域研究的重要工具。、在使用時，首先將待觀察的組織切成非常薄的切片...
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