技術(shù)編號(hào)：40405275
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請(qǐng)一般涉及掃描電子顯微鏡。更具體地，本申請(qǐng)涉及一種用于掃描電子顯微鏡中碰撞監(jiān)測(cè)的方法、設(shè)備和計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)、掃描電子顯微鏡設(shè)備結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜，其零部件眾多且昂貴，若因誤操作導(dǎo)致掃描電子顯微鏡中的樣品臺(tái)和極靴碰撞使得零部件損壞，會(huì)造成嚴(yán)重的損經(jīng)濟(jì)失。由此，監(jiān)控掃描電子顯微鏡的樣品倉內(nèi)樣品臺(tái)到極靴的實(shí)時(shí)高度，并在兩者距離較近時(shí)進(jìn)行適當(dāng)?shù)念A(yù)警，在掃描電子顯微鏡中有較大的實(shí)用價(jià)值。、目前，對(duì)于掃描電子顯微鏡中的碰撞監(jiān)測(cè)方式通常是利用圖像處理進(jìn)行目標(biāo)識(shí)別與跟蹤來實(shí)現(xiàn)。例如，采用圖像處理...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。