技術編號：40400369
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本申請涉及存儲，具體涉及一種閃存測試方法、裝置、存儲介質及計算機設備。背景技術、在存儲技術領域的制作流程中，一塊晶圓可得到多個閃存顆粒（存儲芯片）。這些閃存顆粒的顆粒受限于制程、工藝等緣故會出現不同的die?之間的質量參差不一，存儲性能之間可能存在較大差異。、目前，存儲需求存在不同的級別區(qū)分，包括企業(yè)級、工業(yè)級、汽車級和消費級存儲等，不同的級別對閃存顆粒的顆粒質量要求不同，若在企業(yè)級存儲的級別選用到顆粒質量較差的閃存顆粒，會造成嚴重的安全隱患問題，若在消費級存儲的級別選用顆粒質量非常好的閃存...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。
該類技術無源代碼，用于學習原理，如您想要源代碼請勿下載。