技術(shù)編號(hào):40396475
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本技術(shù)涉及探針清洗,特別涉及一種高效的芯片測(cè)試座清潔設(shè)備。背景技術(shù)、測(cè)試插座是一種常見(jiàn)的設(shè)備,它用于將芯片安裝在測(cè)試平臺(tái)上,以便進(jìn)行電氣測(cè)試、功能驗(yàn)證和性能評(píng)估等操作,芯片測(cè)試插座的設(shè)計(jì)和技術(shù)涉及到多個(gè)領(lǐng)域,包括電子工程、機(jī)械工程和材料科學(xué)等。、專利號(hào):cnu,公開(kāi)了一種自動(dòng)定位清潔裝置,通過(guò)機(jī)械臂帶動(dòng)清潔構(gòu)件依次對(duì)每個(gè)探針進(jìn)行清洗,從而避免了多個(gè)清潔結(jié)構(gòu)損壞后替換困難的問(wèn)題,同時(shí)能夠滿足不同高度的探針的使用要求,從而使得探針的清洗更加干凈。、然而該方案在實(shí)施的過(guò)程中,由...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。