技術(shù)編號(hào)：40396238
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及多層復(fù)合材料缺陷檢測(cè)，具體而言，涉及一種超高分辨率的多層結(jié)構(gòu)界面分層超聲檢測(cè)方法。背景技術(shù)、多層結(jié)構(gòu)界面的完整性對(duì)材料性能至關(guān)重要，尤其在航空航天、電子封裝等領(lǐng)域。超聲波檢測(cè)作為一種有效的界面分層缺陷檢測(cè)方法，近年來得到廣泛應(yīng)用。就目前而言，由于界面分層缺陷的厚度尺寸較?。ㄍǔ閹装佴蘭以下），傳統(tǒng)的超聲波檢測(cè)器件在檢測(cè)分層缺陷時(shí)因軸向分辨率低與回波重疊等問題而常常不被采納；同時(shí)，超聲波在傳播過程中會(huì)受到衍射現(xiàn)象的影響，其最小分辨距離約為波長(zhǎng)的一半，當(dāng)缺陷尺寸小于半波長(zhǎng)時(shí)，缺陷背部與...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。