技術(shù)編號：40391573
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于微區(qū)表面電勢原位測試，涉及一種原位光照kpfm測試裝置及測試方法。背景技術(shù)、開爾文探針力顯微鏡（kelvin?probe?forcemicroscope，kpfm）是原子力顯微鏡的一種衍生技術(shù)。給探針施加交流電壓，在針尖和樣品之間形成電場力，通過外加一個直流電壓抵消電場力，從而觀測樣品表面電位的。此外，導電針尖和樣品之間的接觸電勢差
vcpd（contact?potential?difference）定義為
vcpd=（
...
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