技術(shù)編號(hào)：40389921
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及系統(tǒng)測試分析與設(shè)計(jì)，尤其是涉及一種基于遺傳算法和離散粒子群算法的測試策略優(yōu)化方法。背景技術(shù)、隨著大型武器裝備系統(tǒng)越來越復(fù)雜，導(dǎo)致電子設(shè)備的測試性分析與測試策略設(shè)計(jì)越來越困難。而且測試策略設(shè)計(jì)的缺陷會(huì)導(dǎo)致對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行故障診斷與維修產(chǎn)生的費(fèi)用越來越高。一個(gè)具有良好測試性的系統(tǒng)，能夠大大減少其故障檢測和隔離所需要的時(shí)間，從而顯著縮短維修時(shí)間，并能夠降低對(duì)維修人員的相應(yīng)技能要求，從而達(dá)到提高系統(tǒng)可靠性、降低壽命周期費(fèi)用的目的。、系統(tǒng)結(jié)構(gòu)和功能比較復(fù)雜時(shí)，系統(tǒng)故障模式也具有多樣性的特點(diǎn)，所以一...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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